: 2dsin ?? = m?
где d - расстояние между отражающими кристаллографическими плоскостями, ? - угол между падающим лучом и отражающей плоскостью, ? - длина волны излучения, m - целое положительное число. Установлено в 1913 У. Л. Брэггом и независимо Г. В. Вульфом. Брэгга-Вульфа условие - основа рентгеновского структурного анализа.